自動クリティカルポイント乾燥機(クリーンルーム用)

モデル: CPD-SG

半導体クリーンルーム用途向けに設計された本システムは、全自動プロセス制御と、CO₂供給ラインに対する0.08 μmの精密ろ過を組み合わせることで、粒子汚染を最小限に抑え、繊細なウェーハ表面や微細構造を保護します。シーメンス製のPLCと高解像度LCDタッチスクリーンにより、プリセットされた処理プログラムやカスタマイズ可能なレシピに対応し、一貫性があり再現性の高い乾燥を実現します。.

本システムは、半導体ウェーハ、パターン形成済みチップ、MEMSデバイス、マイクロエレクトロニクス構造、および高度な清浄度が求められるその他の試料に適しています。ウェットプロセス後の乾燥やMEMSの剥離に対応しており、マイクロおよびナノスケールの微細構造を維持しつつ、毛細管現象によるスティクションや構造の崩壊を低減するのに役立ちます。.

製品の特徴

1.微細なCO₂ ろ過

0.08 μmのろ過システムは、CO₂供給ライン内の粒子汚染を低減し、デリケートなウェーハ表面や微細構造を保護するのに役立ちます。.

 

2.クリーンルーム対応構成

材料、サンプル取り扱い用アクセサリー、および排気接続部は、半導体クリーンルームのワークフローおよび汚染管理に合わせて構成されています。.

 

3. ウェーハの取り扱いとバッチ処理

専用のウェーハホルダーによりバッチ処理が可能であり、対応するウェーハ径およびバッチ処理能力は、チャンバーとホルダーの構成によって決まります。.

 

4. パターン付きウェーハおよびMEMSの乾燥

ウェットプロセス後の乾燥およびMEMSの剥離をサポートし、毛細管現象によるスティクションや繊細な構造の崩壊を低減します。.

 

5. 繊細な微細構造の作製法

充填、交換、減圧の設定を調整できるため、パターン付きチップ、浮遊構造、その他のデリケートな半導体試料に対応可能です。.

技術仕様

単位、動作範囲、寸法、電源要件、および構成オプションを含む、検証済みの仕様表を追加してください。.

信頼できる出典資料が必要

用途

確認済みの適用分野、対応するサンプル種別、および必要な制限事項や使用条件に関する注意事項を追加してください。.

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関連資料・動画

このモデルに関する承認済みのパンフレット、マニュアル、アプリケーションノート、デモ動画、およびダウンロードリンクを追加してください。.

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